ICP光譜儀具采用等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測(cè)時(shí)尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，有高靈敏度、高精度以及波長(zhǎng)范圍寬等特性，在ICP-OES領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用，可分析包括ppm級(jí)鹵素在內(nèi)的73個(gè)金屬和非金屬元素。

　　在做定量測(cè)量前，必須先做分析線的定義。在Method的LineDefinition窗口中，點(diǎn)擊Method/Analysis/SingleMeasurements測(cè)量一個(gè)高濃度的標(biāo)樣后，確定分析線的峰高、背景、積分范圍等相關(guān)定量參數(shù)?；蛘{(diào)入已保存的光譜圖定義以上參數(shù)。

　　然后點(diǎn)擊工作站左邊工具箱中的Analysis按鈕進(jìn)入分析測(cè)量窗口。如果是用自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)樣，在自動(dòng)進(jìn)樣器窗口中點(diǎn)擊F5，按自動(dòng)進(jìn)樣器的編輯方法進(jìn)樣。若要停止進(jìn)樣，點(diǎn)擊Esc。以上操作可點(diǎn)擊工具欄上相應(yīng)的快捷鍵。以下是手動(dòng)進(jìn)樣的操作過(guò)程說(shuō)明。

　　把吸樣管放入要測(cè)的標(biāo)樣中，點(diǎn)擊Analysis/MethodMeasurements，選擇要測(cè)的標(biāo)樣名，點(diǎn)擊Measure，測(cè)量完成后，點(diǎn)擊Analysis/SampleFinish。然后按順序測(cè)完標(biāo)準(zhǔn)系列，再點(diǎn)擊Calculate，回到Method窗口，得到工作曲線。如果不能得到工作曲線，是由于軟件計(jì)算出的工作曲線的相關(guān)系數(shù)小于設(shè)定值。

　　把吸樣管放入要測(cè)的樣品中，若測(cè)量一次點(diǎn)擊Analysis/SingleMeasurements，若測(cè)量多次點(diǎn)擊Analysis/MultipleMeasurements，測(cè)量完成后，點(diǎn)擊Analysis/SampleFinish。